基體的過早腐蝕通常是由涂層被破壞所造成。造成涂層破壞和缺陷的主要原因是針孔、空隙、雜質、細小污點和氣泡。
在Elcometer 236的便利攜帶包前端，可固定探頭手柄和附件，使Elcometer 236理想用于戶外、工地和實驗室檢測。

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基體的過早腐蝕通常是由涂層被破壞所造成。造成涂層破壞和缺陷的主要原因是針孔、空隙、雜質、細小污點和氣泡。
在Elcometer 236的便利攜帶包前端，可固定探頭手柄和附件，使Elcometer 236理想用于戶外、工地和實驗室檢測。
附件袋可以容納額外的互換電池（供選），還可以與攜帶包相連--這樣可以延長檢測時間，而不必重新充電。

重量輕，1.8 kg（4磅）

Elcometer 236 直流孔隙探測儀

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基體的過早腐蝕通常是由涂層被破壞所造成。造成涂層破壞和缺陷的主要原因是針孔、空隙、雜質、細小污點和氣泡。
在Elcometer 236的便利攜帶包前端，可固定探頭手柄和附件，使Elcometer 236理想用于戶外、工地和實驗室檢測。

基體的過早腐蝕通常是由涂層被破壞所造成。造成涂層破壞和缺陷的主要原因是針孔、空隙、雜質、細小污點和氣泡。在Elcometer 236的便利攜帶包前端，可固定探頭手柄和附件，使Elcometer 236理想用于戶外、工地和實驗室檢測。

基體的過早腐蝕通常是由涂層被破壞所造成。造成涂層破壞和缺陷的主要原因是針孔、空隙、雜質、細小污點和氣泡。
在Elcometer 236的便利攜帶包前端，可固定探頭手柄和附件，使Elcometer 236理想用于戶外、工地和實驗室檢測。